X射线探伤仪

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射线探伤的英文为:radiographic testing;
作为五大常规无损检测方法之一的射线探伤,在工业上有着非常广泛的应用,它既用于金属检查,也用于非金属检查。对金属内部可能产生的缺陷,如气孔、针孔、夹杂、疏松、裂纹、偏析、未焊透和熔合不足等,都可以用射线检查。应用的行业有特种设备、航空航天、船舶、兵器、水工成套设备和桥梁钢结构。
射线探伤的基本原理如下:
当强度均匀的射线束透照射物体时,如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异,它将改变物体对射线的衰减,使得不同部位透射射线强度不同,这样,采用一定的检测器(例如,射线照相中采用胶片)检测透射射线强度,就可以判断物体内部的缺陷和物质分布等。
射线探伤常用的方法有X射线探伤、γ射线探伤、高能射线探伤和中子射线探伤。对于常用的工业射线探伤来说,一般使用的是X射线探伤、γ射线探伤。
射线对人体具有辐射生物效应,危害人体健康。探伤作业时,应遵守有关安全操作规程,应采取必要的防护措施。
X射线探伤装置的工作电压高达数万伏乃至数十万伏,作业时应注意高压的危险。
原理
利用 X射线或γ射线在穿透被检物各部分时强度衰减的不同,检测被检物中缺陷的一种无损检测方法。
原理:被测物体各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。当X射线或γ射线在穿透被检物时,射线被吸收的程度也将不同。若射线的原始强度为
  
,通过线吸收系数为μ的、厚度为t的材料后,强度因被吸收而衰减为
  
,其关系为
  
。若将受到不同程度吸收的射线投射在X射线胶片上,经显影后可得到显示物体厚度变化和内部缺陷情况的照片(X射线底片)。这种方法称为X射线照相法。如用荧光屏代替胶片直接观察被检物体,称为法。如用光敏元件逐点测定透过后的射线强度而加以记录或显示,则称为仪器测定法。
射线探伤(x、γ)方法介绍
工业上常用的射线探伤方法为X射线探伤和γ射线探伤。指使用电磁波对金属工件进行检测,同X线类似。射线穿过材料到达底片,会使底片均匀感光;如果遇到裂缝、洞孔以及夹渣等缺陷,一般将会在底片上显示出暗影区来。这种方法能检测出缺陷的大小和形状,还能测定材料的厚度。
X 射线是在高真空状态下用高速电子冲击阳极靶而产生的。γ射线是放射性同位素在原子蜕变过程中放射出来的。两者都是具有高穿透力、波长很短的电磁波。不同厚度的物体需要用不同能量的射线来穿透,因此要分别采用不同的射线源。例如由X射线管发出的X射线(当电子的加速电压为400千伏时),放射性同位素60Co所产生的γ射线和由 20兆电子伏直线加速器所产生的X射线,能穿透的钢材厚度分别约为90毫米、230毫米和600毫米。
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